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產品中心臺式電鏡&臺階儀&原位分析澤攸TEM原位方案(樣品桿)
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PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)是原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、電等），從而對材料或者器件等樣品實現多重激勵下的原位表征。
更新時間：2025-03-24
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