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技術(shù)文章

TECHNICAL ARTICLES

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  • 20248-25
    徠卡金相顯微鏡與普通顯微鏡的區(qū)別及應(yīng)用

    顯微鏡是科學(xué)研究和工業(yè)檢測中的重要工具,其應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,包括生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等。隨著科技的發(fā)展,顯微鏡技術(shù)不斷演進,徠卡金相顯微鏡與普通顯微鏡就是其中的兩種常見類型。雖然它們都用于觀察微小物體,但在結(jié)構(gòu)、功能和應(yīng)用領(lǐng)域上存在顯著差異。一、顯微鏡的基本原理普通顯微鏡,又稱光學(xué)顯微鏡,通過光學(xué)系統(tǒng)放大樣品,使得肉眼無法分辨的細節(jié)變得可見。其基本結(jié)構(gòu)包括光源、聚光鏡、物鏡和目鏡。普通顯微鏡通常用于觀察生物細胞、組織切片等樣品,適合各種實驗室應(yīng)用。徠卡金相顯微鏡則是一種專門用于...

  • 20248-19
    徠卡顯微鏡操作流程詳解

    徠卡顯微鏡以其良好的圖像質(zhì)量和精密的光學(xué)系統(tǒng),在科學(xué)研究、醫(yī)學(xué)診斷和工業(yè)檢測中發(fā)揮著重要作用。正確的操作流程不僅能確保產(chǎn)品的性能,還能提高實驗的準確性和效率。以下是徠卡顯微鏡操作的詳細步驟,幫助用戶充分發(fā)揮這一高級設(shè)備的潛力。一、準備1.環(huán)境準備:確保顯微鏡放置在穩(wěn)定、干燥且溫度適宜的環(huán)境中。避免陽光直射和溫度劇烈波動,以保證設(shè)備的穩(wěn)定性和圖像質(zhì)量。2.電源連接:檢查電源線和插頭,確保連接穩(wěn)固。接通電源,啟動顯微鏡。部分型號可能需要預(yù)熱幾分鐘,以確保光源穩(wěn)定。3.光學(xué)系統(tǒng)檢查...

  • 20248-14
    非接觸式測量的未來:三維光學(xué)輪廓儀的廣泛應(yīng)用

    三維光學(xué)輪廓儀作為一種高精度、非接觸式的測量工具,正逐步成為多個領(lǐng)域中重要的測量設(shè)備。其非接觸式的測量方式不僅避免了傳統(tǒng)接觸式測量可能帶來的表面損傷,還顯著提高了測量效率和精度。以下將詳細闡述三維光學(xué)輪廓儀的廣泛應(yīng)用及其在未來非接觸式測量領(lǐng)域的重要地位。一、高精度表面形貌測量三維光學(xué)輪廓儀能夠以納米級的分辨率測量物體表面的三維形貌,包括粗糙度、波紋度、表面結(jié)構(gòu)、缺陷分析等。這種高精度的測量能力使得它在微電子、半導(dǎo)體、光學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。例如,在半導(dǎo)體制造中,三...

  • 20247-24
    澤攸探針臺:精密納米測量的科技工具

    在納米科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中,精密測量技術(shù)扮演著至關(guān)重要的角色。安徽澤攸科技有限公司,作為具有全部自主知識產(chǎn)權(quán)的科學(xué)儀器公司,其研發(fā)的探針臺產(chǎn)品,尤其是澤攸探針臺,成為了納米測量領(lǐng)域的先進者。本文將深入探討它的主要功能、技術(shù)特點及其在多個領(lǐng)域的應(yīng)用。澤攸探針臺,作為澤攸科技的重要產(chǎn)品線之一,以其高精度、高分辨率和多功能性,在納米材料表征、器件測試及生物細胞操作等領(lǐng)域展現(xiàn)出強大的應(yīng)用潛力。該探針臺采用了先進的掃描探針技術(shù),能夠在微觀尺度下對樣品表面進行精確測量和操縱,為科研人員提...

  • 20247-19
    澤攸臺式掃描電鏡使用指南

    在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)及納米技術(shù)等領(lǐng)域,掃描電鏡(SEM)作為重要的分析工具,其應(yīng)用日益廣泛。澤攸科技推出的臺式掃描電鏡,憑借其緊湊的設(shè)計、高清晰度的成像及便捷的操作流程,受到了科研人員的青睞。以下將詳細介紹澤攸臺式掃描電鏡的使用方法。一、準備工作1.環(huán)境準備:確保操作環(huán)境相對干燥、無塵、無震動,以保證掃描效果的穩(wěn)定和準確。2.樣品準備:樣品表面需進行導(dǎo)電處理,如金屬噴霧或蒸鍍,以消除電荷積累對成像的影響。同時,樣品表面應(yīng)光滑平整,避免劃痕或污染。3.設(shè)備檢查:檢查掃描電鏡各部...

  • 20247-15
    共聚焦白光干涉儀的結(jié)構(gòu)、原理與操作指南

    一、結(jié)構(gòu)共聚焦白光干涉儀(雖然通常直接稱為白光干涉儀,但“共聚焦”可能指的是其聚焦和測量過程中的一個特性)主要由以下幾個關(guān)鍵系統(tǒng)構(gòu)成:照明光源系統(tǒng):通常采用高亮度LED光源,Sensofar采用4色LED光源(紅、綠、藍、白),這一系統(tǒng)負責提供穩(wěn)定、均勻的光源,用于后續(xù)的共聚焦、白光干涉、相位移干涉和多焦面疊加測量。光學(xué)成像系統(tǒng):該系統(tǒng)采用無限遠光學(xué)成像方式,由顯微物鏡和成像目鏡(或現(xiàn)代設(shè)計中可能采用的CCD相機)組成。它負責接收從樣品和參考鏡反射回來的光線,并形成清晰的圖像...

  • 20247-4
    Sensofar共聚焦白光干涉儀 | 對刀具切削刃的評估

    切削刀具的塑造對最終產(chǎn)品的質(zhì)量非常重要。它能提供刀具切削時的信息,例如能切削的材料總量。更具體地說,刀具的切削刃是表征刀具使用壽命、性能以及所需的切削速度和切削精度的關(guān)鍵特征。切削刃的評估半徑均勻性和邊緣的角度有助于理解切削刀具的切削性能。所有這些參數(shù)都能通過SensoPRO軟件的Edge模塊自動分析。因為SENSOFAR傳感器頭有3種光學(xué)測量技術(shù),所以針對不同類型的刀削刃,我們可以選擇最合適的技術(shù)去評估。插入式刀削刃高精度的切割微鉆頭鉆頭的刃口刀削刃的分析模塊可以分析刃口的...

  • 20247-4
    Sensofar共聚焦白光干涉儀|對用于后端封裝環(huán)節(jié)

    關(guān)于在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用,我們通常集中在制造過程的后端封裝環(huán)節(jié):Sensofar的產(chǎn)品可以用來表征關(guān)鍵尺寸,表征材料的粗糙度,以及進行缺陷檢測等。碳化硅基晶圓由于其優(yōu)異的熱穩(wěn)定性與特殊的電子傳輸特性,以碳化硅基晶圓為基礎(chǔ)的芯片在很多新興電子器件比如說5G通訊等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。在制備碳化硅基集成電路時,通常采用的是化學(xué)氣相沉積技術(shù)。對其表面形貌的測量與表征對于了解其晶體生長過程是否均勻很有必要。SensoVIEW可以通過ISO標準規(guī)定的各空間,高度,以及混合參數(shù)來表征材料的形...

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